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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80390. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, ED, 55cm., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80390
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80391. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 50K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80391
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)normal. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80392. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 50K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80392
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)normal.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80393. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80393
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80394. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80394
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80395. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80395
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80396. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80396
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　a.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80397. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80397
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　b.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80398. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80398
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　c.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80399. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, ED, 55cm., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80399
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80400. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80400
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80401. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80401
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80402. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, DF, 100K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80402
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)order.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80403. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, 0.4K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80403
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (条件・倍率等)0.4K.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80404. Cu3Au, 2MeV Auイオン照射　1E13Au6+/cm2, 0.2K., [1992年2月2日.]

 アイテム
資料番号: L-80404
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)2MeV Auイオン照射　1E13Au6＋/cm2. (条件・倍率等)0.2K.

(備考)」.

日付: [1992年2月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80405. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80405
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area A α. 日付元記載「1992. 2. 4」.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80406. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80406
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80407. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80407
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80408. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80408
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80409. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80409
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80410. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80410
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80411. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80411
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80412. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80412
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80413. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80413
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80414. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80414
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

(備考)Area B.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80415. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80415
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80416. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80416
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80417. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80417
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80418. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80418
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80419. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80419
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80420. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80420
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80421. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80421
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80422. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80422
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80423. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80423
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β over 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80424. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80424
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β over 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80425. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80425
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　under 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80426. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80426
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80427. Masked Cu, 21MeV Au+, DF, 100K., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80427
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80428. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80428
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80429. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80429
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80430. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80430
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80431. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80431
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80432. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80432
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80433. Masked Cu, 21MeV Au+, DF, 100K., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80433
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80434. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80434
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80435. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80435
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80436. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80436
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80437. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80437
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area D β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80438. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80438
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area D β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80439. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80439
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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