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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80440. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80440
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80441. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80441
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80442. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80442
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80443. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80443
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area E β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80444. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80444
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E β　　over exp.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80445. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80445
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80446. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80446
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80447. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80447
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80448. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80448
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80449. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80449
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80450. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80450
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area F β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80451. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80451
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80452. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80452
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area F αに戻す.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80453. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80453
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F αに戻す.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80454. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80454
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80455. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80455
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A. 日付元記載「2/6」.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80456. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80456
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80457. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80457
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80458. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80458
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80459. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80459
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80460. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80460
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80461. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80461
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80462. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80462
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80463. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED, 55cm., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80463
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)D.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80464. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80464
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)normal 200.

(備考)α　二つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80465. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED, 55cm., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80465
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α　二つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80466. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80466
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)normal 200.

(備考)β　二つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80467. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, ED, 55cm., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80467
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β　二つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80468. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80468
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)order 220. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)γ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80469. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80469
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)γ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80470. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80470
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)normal 220.

(備考)γ　一つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80471. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80471
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)γ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80472. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80472
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)order 220.

(備考)γ　一つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80473. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80473
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)γ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80474. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80474
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)ord. 220 -g　. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)δ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80475. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80475
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)δ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80476. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80476
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)ord. 220 -g　.

(備考)δ　一つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80477. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

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資料番号: L-80477
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)δ.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80478. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80478
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)normal 220 -g　.

(備考)δ　一つ外し.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80479. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える., [1992年]2/6.

 アイテム
資料番号: L-80479
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える.

(備考)」.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80480. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

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資料番号: L-80480
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2nd obs. Area G. 日付元記載「1992. 2. 6.」.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80481. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

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資料番号: L-80481
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area G.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80482. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

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資料番号: L-80482
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area G.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80483. Cu, Au+ irrad, BF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80483
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area G.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80484. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80484
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area H.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80485. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80485
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area H.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80486. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80486
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area H.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80487. Cu, Au+ irrad, BF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80487
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area I.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80488. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80488
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area I.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80489. Cu, Au+ irrad, DF, 100K., 1992. 2. 6.

 アイテム
資料番号: L-80489
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Au＋ irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area I.

日付: 1992. 2. 6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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