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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80599. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80599
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 12 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80600. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80600
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 12 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80601. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80601
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 12 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80602. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80602
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 13 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80603. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80603
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 13 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80604. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80604
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 13 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80605. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80605
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 14 s＝6 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80606. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80606
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 16秒？.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80607. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80607
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80608. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80608
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80609. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80609
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80610. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80610
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 15 s＝6～7 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80611. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80611
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 16 s＝6～5 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80612. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80612
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 16 s＝6～5 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80613. Ag, 100keV Ag+, DF, 100K., 1992. 2. 7.

 アイテム
資料番号: L-80613
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area 16 s＝6～5 8秒.

日付: 1992. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80614. Ag, 100keV Ag+, DF., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80614
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)100keV Ag＋. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80615. Ni, 0.5MeV He+, BF, 50K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80615
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「2/7」.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80616. Ni, 0.5MeV He+., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80616
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋.

(備考)フイルム送りトラブル.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80617. Ni, 0.5MeV He+., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80617
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋.

(備考)フイルム送りトラブル.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80618. Ni, 0.5MeV He+., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80618
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋.

(備考)フイルム送りトラブル.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80619. Ni, 0.5MeV He+, BF, 50K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80619
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80620. Ni, 0.5MeV He+, BF, 50K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80620
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80621. Ni, 0.5MeV He+, DF, 50K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80621
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80622. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80622
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80623. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80623
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80624. Ni, 0.5MeV He+, BF, 10K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80624
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80625. Ni, 0.5MeV He+, BF, 30K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80625
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所　エッジ.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80626. Ni, 0.5MeV He+, DF, 30K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80626
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所　エッジ.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80627. Ni, 0.5MeV He+, DF, 30K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80627
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所　上よりも少し内部.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80628. Ni, 0.5MeV He+, BF, 30K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80628
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80629. Ni, 0.5MeV He+, BF, 30K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80629
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所　上よりも少し内部.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80630. Ni, 0.5MeV He+, DF, 30K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80630
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80631. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80631
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　625と関連.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80632. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80632
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80633. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80633
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　631より1視野奥 明るい所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80634. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80634
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80635. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80635
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80636. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80636
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80637. Ni, 0.5MeV He+, ED., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80637
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80638. Ni, 0.5MeV He+, BF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80638
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80639. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80639
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80640. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80640
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80641. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80641
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80642. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80642
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　内部.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80643. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80643
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所　内部.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80644. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80644
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80645. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80645
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80646. Ni, 0.5MeV He+, DF, 100K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80646
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)stereo用　644と対.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80647. Ni, 0.5MeV He+, DF, 50K., [1992年]2/ 7.

 アイテム
資料番号: L-80647
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)エッジ付近.

日付: [1992年]2/ 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80648. Ni, 0.5MeV He+, 600sec, BF, 30K., [1992年2月7日.]

 アイテム
資料番号: L-80648
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)0.5MeV He＋. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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