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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73537. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73537
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73538. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73538
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73539. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73539
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73540. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73540
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73541. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73541
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73542. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73542
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73543. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73543
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73544. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73544
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73545. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73545
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73546. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73546
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73547. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73547
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73548. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73548
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73549. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73549
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73550. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73550
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73551. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73551
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73552. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73552
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73553. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73553
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73554. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73554
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73555. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73555
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73556. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73556
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73557. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73557
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73558. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73558
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73559. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73559
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73560. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73560
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73561. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73561
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73562. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73562
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73563. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73563
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73564. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 200K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73564
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73565. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73565
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)SFTでは.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73566. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73566
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73567. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73567
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73568. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73568
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73569. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 59K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73569
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)59K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73570. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73570
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73571. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73571
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73572. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73572
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73573. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73573
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73574. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73574
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73575. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73575
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73576. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73576
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73577. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73577
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73578. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73578
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73579. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73579
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73580. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73580
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73581. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73581
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73582. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73582
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73583. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 200K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73583
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73584. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73584
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73585. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73585
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73586. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73586
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)88とステレオ対.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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