共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80954. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80954

範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80955. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80955

範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80956. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, ED., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80956

範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)厚さ測定用.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80957. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80957

範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)左の交差部分　　」.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80958. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80958

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)試料の重なったところ. 日付元記載「2/24」.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80959. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 30K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80959

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)58と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80960. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80960

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80961. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80961

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)60と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80962. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80962

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)界面.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80963. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80963

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)62の都築少し内部.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80964. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80964

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)63と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80965. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80965

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)62と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80966. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80966

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary付近.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80967. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80967

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)66と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80968. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80968

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary付近.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80969. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80969

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)68と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80970. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80970

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)界面.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80971. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80971

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)70の続き　少し内部.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80972. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80972

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)71と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80973. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80973

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)70と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80974. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80974

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)界面.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80975. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80975

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)74の続き　少し内部.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80976. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80976

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)75と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80977. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

アイテム

資料番号: L-80977

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)74と同じところ.

日付: [1992年]2/24.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80978. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80978

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)交差部分右. 日付元記載「2/25」.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80979. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80979

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80980. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80980

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80981. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80981

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80982. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80982

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80983. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80983

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)外.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80984. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80984

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80985. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80985

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80986. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80986

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)外.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80987. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 100K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80987

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なり.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80988. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 100K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80988

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)100K.

(備考)左.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80989. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80989

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)更に.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80990. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80990

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)内部.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80991. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80991

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)更に内.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80992. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80992

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なり.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80993. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80993

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)左.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80994. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80994

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)左奥.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80995. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80995

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80996. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 30K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80996

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)等圧干渉じま波うっている.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80997. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 5K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-80997

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)右側重なり部分. 日付元記載「2/26」.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80997. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 30K., [1992年]2/25.

アイテム

資料番号: L-80997

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)重なりのところ.

日付: [1992年]2/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80998. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 5K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-80998

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)（判読不能）の方へマスクされている側.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80999. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 5K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-80999

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)（判読不能）の方へマスクされている側.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81000. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 5K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81000

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)（判読不能）の方へマスクされている側.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81001. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 5K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81001

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)マスクきずあり.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81002. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81002

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)交差部分.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

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