共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81003. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81003

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)左へ　マップ.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81004. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81004

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)左へ　マップ.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81005. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81005

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)左へ　マップ.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81006. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81006

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)？.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81007. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81007

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)カバー.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81008. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 30K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81008

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)オーバーラップしているところ.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81009. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81009

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)内部.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81010. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81010

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81011. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81011

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)少し暗い.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81012. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81012

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81013. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81013

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)クロスしているところ.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81014. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100or50K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81014

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100or50K.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81015. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81015

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)界面.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81016. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81016

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81017. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81017

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81018. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81018

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うねっていないところ.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81019. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81019

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA.

(備考)フイルム動かなかった.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81020. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 50K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81020

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)壁　013に近い.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81021. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81021

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)重なり部分カバー多.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81022. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81022

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)重なり部分　下の部分多.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81023. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81023

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)右交差.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81024. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81024

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)右.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81025. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 10K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81025

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)左.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81026. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81026

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA.

(備考)左.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81027. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, 20K., [1992年]2/26.

アイテム

資料番号: L-81027

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (条件・倍率等)20K.

(備考)カバーの方の等圧干渉じま.

日付: [1992年]2/26.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81028. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81028

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「2/27」.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81029. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81029

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81030. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81030

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81031. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81031

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)内部.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81032. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81032

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81033. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81033

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)横.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81034. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81034

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81035. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81035

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81036. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81036

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内部.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81037. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81037

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81038. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81038

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81039. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81039

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81040. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81040

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81041. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81041

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81042. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81042

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81043. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81043

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)GB近く.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81044. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81044

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)GB近く.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81045. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81045

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)細かい.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81046. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81046

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)下と同じところ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81047. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81047

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上と同じところ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81048. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81048

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81049. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81049

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81050. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81050

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81051. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, ×., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81051

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81052. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81052

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

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