共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81053. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81053

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81054. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81054

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B.

(備考)シャッター不良.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81055. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81055

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81056. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81056

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ測定用.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81057. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, ED., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81057

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81058. Ni, 0.5MeV He+ 6μA(2枚重ね）B, 100., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81058

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA(2枚重ね）B. (条件・倍率等)100.

(備考)dot測定用.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81060. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 10K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81060

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)左側交差. 日付元記載「2/27」.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81061. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 10K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81061

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (条件・倍率等)10K.

(備考)右側交差.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81062. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81062

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81063. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81063

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81064. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 失敗., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81064

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)失敗.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81065. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81065

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81066. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81066

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)露光不足？.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81067. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81067

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81068. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81068

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)67に同じ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81069. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81069

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)GBをはさんで差はない.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81070. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81070

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81071. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81071

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81072. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81072

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81073. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81073

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A ステレオ　面が合わない.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81074. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81074

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)面が合わない.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81075. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81075

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)GB付近.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81076. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81076

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81077. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 50K., [1992年]2/27.

アイテム

資料番号: L-81077

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋照射　6μA. (条件・倍率等)50K.

(備考)GBの差のないところ.

日付: [1992年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81095. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81095

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「3/7」.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81096. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81096

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81097. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81097

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)ビ－ムカット.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81098. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81098

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81099. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81099

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81100. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81100

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81101. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81101

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)ビームカットされる（フィルム動く）.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81102. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81102

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)100と同じ.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81103. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81103

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)良く見えるところ.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81104. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81104

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81105. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81105

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81106. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81106

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81107. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81107

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81108. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81108

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)フイルム送りトラブル.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81109. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81109

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)singleでも時間がたつとダメ.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81110. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81110

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81111. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81111

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81112. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81112

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81113. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81113

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81114. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

アイテム

資料番号: L-81114

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)フイルム送りトラブル　　中止.

日付: [1992年]3/7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81115. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料., [1992年]3/8.

アイテム

資料番号: L-81115

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料.

(備考)カラ送りテスト. 日付元記載「3/12」.

日付: [1992年]3/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81116. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.

アイテム

資料番号: L-81116

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]3/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81117. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 100K., [1992年]3/8.

アイテム

資料番号: L-81117

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]3/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81118. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DFF., [1992年]3/8.

アイテム

資料番号: L-81118

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DFF. (反射ベクトルg)(110)＜100＞.

日付: [1992年]3/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81119. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.

アイテム

資料番号: L-81119

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)組織がこわれている？.

日付: [1992年]3/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81120. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 100K., [1992年]3/8.

アイテム

資料番号: L-81120

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)（反射がうまくでない）.

日付: [1992年]3/8.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

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