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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73587. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73587
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73588. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73588
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)86とステレオ対.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73589. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73589
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73590. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73590
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73591. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73591
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73592. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73592
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73593. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73593
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a. 実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73594. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73594
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73595. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73595
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73596. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73596
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73597. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73597
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73598. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73598
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73599. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73599
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73600. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73600
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73601. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73601
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73602. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73602
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73603. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73603
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73604. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73604
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73605. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73605
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73606. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73606
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73607. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73607
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73608. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73608
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73609. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73609
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73610. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73610
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73611. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73611
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73612. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73612
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73613. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73613
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73614. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73614
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73615. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73615
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73616. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73616
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73617. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73617
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73618. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73618
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a. 実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73619. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73619
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73620. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73620
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73621. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73621
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73622. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73622
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73623. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73623
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73624. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73624
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73625. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73625
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73626. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73626
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73627. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73627
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73628. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73628
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73629. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73629
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73630. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73630
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73631. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73631
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73632. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73632
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73633. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73633
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73634. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73634
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73635. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73635
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73636. Ni-0.05Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73636
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)b.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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