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共同研究実施年度 Year of joint research projects::1991-1992 平成3年度

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

2483 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82715. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82715
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82716. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82716
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82717. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82717
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82718. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82718
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82719. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82719
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82720. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82720
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82721. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82721
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82722. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82722
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82723. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82723
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82724. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82724
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82725. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82725
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82726. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82726
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82727. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82727
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82728. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82728
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82729. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82729
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82730. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82730
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82731. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82731
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82732. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82732
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82733. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82733
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82734. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82734
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド　　広げてピント.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82735. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82735
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド　　絞ってピント.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82736. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82736
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82737. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82737
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82738. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82738
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82739. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82739
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82740. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82740
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82741. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82741
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82742. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82742
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[記録ノート, Lシリーズ] L-12 平成2年11月〜., 平成2年11月〜[平成3年（1991）7月24日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1990.11.21」, 終了日付「1991.7.24」より.], [1990-11-21/1991-07-24.]

 アイテム
資料番号: L-12
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 平成2年11月〜[平成3年（1991）7月24日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1990.11.21」, 終了日付「1991.7.24」より.]; [1990-11-21/1991-07-24.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Lシリーズ.

[記録ノート, Lシリーズ] L-13 平成3年9月. 72406-81511., 平成3年9月[17日〜平成4年（1992）7月3日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1991年9月17日」, 終了日付「7/3」より.], [1991-09-17/1992-07-03.]

 アイテム
資料番号: L-13
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 平成3年9月[17日〜平成4年（1992）7月3日]. [表紙記載, ノート内記載開始日付「1991年9月17日」, 終了日付「7/3」より.]; [1991-09-17/1992-07-03.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Lシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] O-22 平成3年2月6日→., 平成3年2月6日→[平成3年（1991）7月22日]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「1991.7.22」より.], [1991-02-06/1991-07-22.]

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資料番号: O-22
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 平成3年2月6日→[平成3年（1991）7月22日]. [表紙記載, ノート内記載終了日付「1991.7.22」より.]; [1991-02-06/1991-07-22.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

[記録ノート, Oシリーズ] O-23 (上) 平成3年9月., 平成3年9月[7日〜平成4年（1992）7月26日]. [表紙記載, ノート内記載「1991.9.7」,「7/26」より.], [1991-09-07/1992-07-26.]

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資料番号: O-23-1
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: 平成3年9月[7日〜平成4年（1992）7月26日]. [表紙記載, ノート内記載「1991.9.7」,「7/26」より.]; [1991-09-07/1992-07-26.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 記録ノート. / [記録ノート] Oシリーズ.

高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.

 コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約 高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで，さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた，希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付: 1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]; [1985-01-10/1997-07-26.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive

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