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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43299. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43299
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43300. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43300
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43301. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43301
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43302. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43302
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43303. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43303
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43304. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43304
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43305. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43305
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43306. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43306
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43307. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43307
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43308. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43308
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43309. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43309
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43310. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43310
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43311. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43311
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43312. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43312
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43313. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43313
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43314. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43314
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43315. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43315
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43316. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43316
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43317. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43317
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43318. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43318
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43319. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43319
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43320. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43320
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43321. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43321
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43322. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43322
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43323. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43323
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43324. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43324
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43325. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43325
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43326. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43326
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43327. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43327
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43328. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43328
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43329. SUS, K277, RTNS-II, 350℃, WW, 270K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43329
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)270K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43330. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43330
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「1990. 3. 15」.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43331. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43331
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)g＝220.

(備考)以下gを変化させたおうであるが、ノート.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43332. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43332
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

(備考)からは、意図不明.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43333. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43333
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43334. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43334
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43335. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43335
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43336. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43336
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43337. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43337
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43338. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43338
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43339. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43339
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43340. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43340
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43341. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43341
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43342. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43342
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43343. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43343
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43344. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43344
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43345. SUS316, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., 1990. 3. 15.

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資料番号: L-43345
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43346. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43346
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43347. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43347
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43348. SUS316, JMTR controlled, 300℃., 1990. 3. 15.

 アイテム
資料番号: L-43348
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: 1990. 3. 15.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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