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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46387. Cu-2Si, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46387
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46388. Cu-2Si, JMTR controlled, 350℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46388
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46389. Cu-2Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46389
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46390. Cu-2Si, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46390
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46391. Cu-2Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46391
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46392. Cu-2Si, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46392
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46393. Cu-2Si, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46393
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46394. Cu-2Si, JMTR controlled, 350℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46394
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46395. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46395
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46396. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46396
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46397. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46397
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46398. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46398
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46399. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46399
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46400. Cu-2Sn, JMTR controlled, 350℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46400
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46401. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46401
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46402. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46402
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46403. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46403
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46404. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46404
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46405. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46405
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46406. Cu-2Ge, JMTR controlled, 350℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46406
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46407. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46407
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46408. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46408
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46409. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46409
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46410. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46410
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46411. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46411
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46412. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46412
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46413. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46413
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46414. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46414
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46415. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46415
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46416. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46416
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46417. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46417
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46418. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46418
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46419. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46419
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46420. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46420
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46421. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46421
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46422. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46422
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46423. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-46423
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46424. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46424
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46425. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-46425
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46426. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-46426
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(2.5).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46427. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-46427
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46428. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-46428
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46429. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46429
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46430. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46430
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46431. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46431
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46432. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46432
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(2.5).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46433. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46433
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46434. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46434
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46435. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46435
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46436. SUS316, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-46436
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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