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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62169. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, DF, 200K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62169
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62170. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, DF, 200K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62170
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62171. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 50K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62171
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62172. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, 50K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62172
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (条件・倍率等)50K.

(備考)on GB.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62173. Cu-2Sn, JMTR, 200℃-U, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62173
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62174. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, ミス., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62174
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ミス.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62175. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62175
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62176. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62176
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62177. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62177
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62178. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 50K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62178
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62179. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62179
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62180. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62180
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62181. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62181
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62182. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62182
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62183. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62183
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62184. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62184
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)st.2.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62185. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62185
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)st.2 すぐ隣.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62186. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62186
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-62187. Cu-0.3Sn, JMTR, 200℃-U, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-62187
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)」.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66675. ？, 20K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66675
範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)20K.

(備考)＋10.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66676. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66676
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋8.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66677. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66677
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋12.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66678. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66678
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66679. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66679
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋5.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66680. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66680
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66681. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66681
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0やり直し.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66682. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66682
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋5.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66683. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66683
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋8.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66684. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66684
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋10.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66685. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66685
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋12.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66686. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66686
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋15.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66687. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66687
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋15重ねどり.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66688. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66688
範囲と内容

(試料)？.

(備考)X.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66689. ？., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66689
範囲と内容

(試料)？.

(備考)＋0重ねどり.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66700. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66700
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66701. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66701
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66702. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66702
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66703. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66703
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66704. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66704
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66705. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66705
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66706. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66706
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)CL82. 実験者元記載「小林」.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66706. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66706
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66707. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66707
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その1　2s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66707. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66707
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66708. A-Si, ED., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66708
範囲と内容

(試料)A-Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その1　1.4s.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66708. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66708
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66709. A-Si, 50K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66709
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)50K.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66709. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66709
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-0　an-1.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66710. A-Si, 15K., [1997年2月27日.]

 アイテム
資料番号: L-66710
範囲と内容

(試料)A-Si. (条件・倍率等)15K.

日付: [1997年2月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-66710. （A-Si)Si., [1997年]6/3.

 アイテム
資料番号: L-66710
範囲と内容

(試料)（A-Si)Si.

(備考)X-13　an-70.

日付: [1997年]6/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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