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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73403. Ni, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73403
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)二つのGrain入り.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73404. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73404
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73405. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73405
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)以上393～405はneighbouring Grains.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73406. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73406
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73407. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 50K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73407
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73408. Ni, JMTR, 350℃-C, DF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73408
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73409. Ni, JMTR, 350℃-C, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73409
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)両Grain.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73410. Ni, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73410
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)両Grain.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73411. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73411
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73412. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73412
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73413. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73413
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73414. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73414
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73415. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73415
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73416. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73416
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73417. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73417
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73418. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73418
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73419. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73419
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73420. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73420
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73421. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73421
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73422. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73422
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73423. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73423
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73424. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73424
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73425. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73425
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73426. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73426
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73427. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73427
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73428. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, BF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73428
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73429. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X2., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73429
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X2. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73430. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, DF, X5., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73430
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)X5. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73431. Ni, N.102, JMTR, 350℃-C, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73431
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N.102. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃-C. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73432. Ni-2Cu, 400-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73432
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)A,B boundary void contarast.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73433. Ni-2Cu, 400-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73433
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)A dislocation contrast.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73434. Ni-2Cu, 400-U, BF, 30K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73434
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73435. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73435
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)dislocation contarast A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73436. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73436
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)dislocation contarast B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73437. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73437
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)void contast A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73438. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73438
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)void contast B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73439. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73439
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73440. Ni-2Cu, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73440
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73441. Ni-2Cu, 400-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73441
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73442. Ni-2Cu, 400-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73442
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)B .

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73443. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73443
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)GBとsurfaceのsink effeciency.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73444. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-73444
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73445. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73445
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)同じ倍率でboundaryのdenudec zone.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73446. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73446
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73447. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73447
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)左側Grain.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73448. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73448
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73449. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED, 55cm., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-73449
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73450. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73450
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)GB. 日付元記載「1991. 7. 24.」. 実験者元記載「by M.K.」.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73451. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73451
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73452. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73452
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)GB.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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