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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73453. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73453
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73454. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73454
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)両側合わす.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73455. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 20K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73455
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)両側合わす.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73456. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73456
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73457. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73457
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73458. Ni-2Sn, N254, 400-U, ミス., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73458
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ミス.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73459. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73459
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)下側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73460. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73460
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73461. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73461
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73462. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73462
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73463. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73463
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73464. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73464
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)左側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73465. Ni-2Sn, N254, 400-U, BF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73465
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73466. Ni-2Sn, N254, 400-U, DF, 10K., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73466
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73467. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73467
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73468. Ni-2Sn, N254, 400-U, ED., 1991. 7. 24.

 アイテム
資料番号: L-73468
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N254. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)左側のGrain.

日付: 1991. 7. 24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73469. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73469
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Elongated loopのstereo α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73470. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73470
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73471. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73471
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73472. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73472
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73473. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73473
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73474. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73474
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73475. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73475
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73476. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73476
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73477. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73477
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73478. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73478
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73479. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 20K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73479
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73480. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73480
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73481. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73481
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73482. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73482
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Faulted loopとperfect loopのsize比較.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73483. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73483
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73484. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73484
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73485. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73485
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73486. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73486
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73487. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K?., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73487
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K?. (反射ベクトルg)220?. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73488. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K?., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73488
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K?. (反射ベクトルg)220?. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73489. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73489
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220?.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73490. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73490
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73491. Ni-2Ge, N224, 400-U, BF, 10K., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73491
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73492. Ni-2Ge, N224, 400-U, ED., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73492
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N224. (照射温度)400-U. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73493. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73493
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)111 pole近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73494. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73494
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73495. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73495
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73496. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73496
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73497. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73497
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73498. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73498
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73499. Fe, JMTR, 100℃, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73499
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73500. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73500
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73501. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73501
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73502. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73502
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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