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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73503. Fe, JMTR, 100℃., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73503
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73504. Fe, JMTR, 100℃, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73504
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)100℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73505. Fe, JMTR, 150→300, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73505
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)150→300. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)よごれ、昇華.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73506. Fe, JMTR, 150→300, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73506
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)150→300. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73507. Fe, JMTR, 150→300, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73507
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)150→300. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73508. Fe, JMTR, 200℃(Conventional)., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73508
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃(Conventional). (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い、よごれ.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73509. Fe, JMTR, 200℃(Conventional)., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73509
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃(Conventional). (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73510. Fe, JMTR, 200℃(Conventional)., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73510
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃(Conventional). (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73511. Fe, JMTR, 200℃(Conventional), ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73511
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃(Conventional). (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73512. Fe, JMTR, 200℃(Conventional)., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73512
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃(Conventional). (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73513. Fe, JMTR, 200 improve, DF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73513
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200 improve. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73514. Fe, JMTR, 200 improve, DF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73514
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200 improve. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73515. Fe, JMTR, 200 improve, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73515
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200 improve. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73516. Fe, JMTR, 200 improve, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73516
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)200 improve. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73517. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73517
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73518. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73518
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73519. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73519
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73520. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73520
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73521. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73521
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)①.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73522. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73522
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)②.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73523. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73523
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)1＋2.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73524. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73524
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73525. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73525
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)1.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73526. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73526
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)2.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73527. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U, BF., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73527
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73528. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73528
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73529. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73529
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73530. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73530
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73531. Ni-2Sn, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73531
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)ループ全体に多い　Grainたまにある.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73532. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73532
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB ボイド.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73533. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73533
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB 転位.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73534. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73534
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB 転位.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73535. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73535
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73536. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73536
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73537. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73537
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73538. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73538
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73539. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73539
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73540. Ni-2Ge, JMTR, 400℃-U, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73540
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73541. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73541
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73542. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73542
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73543. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73543
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73544. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73544
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73545. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73545
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73546. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73546
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB近く.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73547. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U, ED., [1991年7月24日.]

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資料番号: L-73547
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73548. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73548
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73549. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73549
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73550. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73550
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73551. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73551
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73552. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73552
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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