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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73553. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73553
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73554. Ni-2Si, JMTR, 400℃-U., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73554
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃-U.

(備考)GB.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73555. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73555
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73556. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73556
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73557. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73557
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73558. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73558
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73559. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73559
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73560. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73560
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73561. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73561
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73562. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73562
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73563. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73563
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73564. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 200K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73564
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73565. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73565
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)SFTでは.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73566. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73566
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73567. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73567
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73568. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73568
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73569. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, BF, 59K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73569
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)59K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73570. Ni-0.3Si, JMTR, 先の行った200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73570
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先の行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73571. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73571
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73572. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73572
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73573. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73573
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73574. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73574
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73575. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73575
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73576. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73576
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73577. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73577
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73578. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73578
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73579. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73579
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73580. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73580
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73581. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73581
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73582. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73582
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73583. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, DF, 200K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73583
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73584. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73584
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73585. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73585
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73586. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73586
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)88とステレオ対.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73587. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73587
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73588. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73588
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)86とステレオ対.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73589. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, ED., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73589
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73590. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73590
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73591. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73591
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73592. Ni-0.05Si, JMTR, 先に行った200℃, ED, 55cm., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73592
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)先に行った200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73593. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73593
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a. 実験者元記載「浜田」.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73594. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73594
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73595. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73595
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73596. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73596
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73597. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73597
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73598. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73598
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73599. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73599
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73600. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, BF, 100K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73600
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73601. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73601
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-73602. Ni-0.3Sn, JMTR, 前の照射200℃, DF, 50K., [1991年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-73602
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)前の照射200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1991年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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