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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74534. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74534
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74535. Ni-2Si, A406, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74535
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A406. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74536. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74536
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74537. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74537
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74538. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74538
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74539. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74539
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74540. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74540
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74541. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74541
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74542. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74542
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74543. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74543
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74544. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74544
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74545. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74545
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74546. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74546
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74547. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74547
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74548. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74548
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74549. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74549
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74550. Ni-2Cu, A552, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74550
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A552. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)」.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74551. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74551
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74552. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74552
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74553. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74553
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74554. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74554
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74555. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74555
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74556. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74556
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74557. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74557
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74558. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74558
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74559. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74559
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74560. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74560
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74561. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74561
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74562. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74562
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74563. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74563
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74564. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74564
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74565. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74565
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74566. Ni-2Ge, A706, JMTRクラッド, BF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74566
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A706. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74567. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74567
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下記3枚が組.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74568. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74568
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74569. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74569
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74570. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74570
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74571. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74571
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74572. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74572
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74573. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74573
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74574. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74574
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74575. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74575
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74576. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74576
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74577. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74577
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74578. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, ED, 82cm., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74578
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)82cm.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74579. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74579
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74580. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74580
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74581. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 50K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74581
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74582. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, DF, 100K., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74582
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と対.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-74583. Ni-2Sn, A839, JMTRクラッド, BF., [1991年9月18日.]

 アイテム
資料番号: L-74583
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A839. (照射条件)JMTRクラッド. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年9月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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