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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80154. Cu, HVEM irrad., ×., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80154
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)×.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80155. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80155
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT像　.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80156. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80156
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　　過密　.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80158. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80158
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80160. Cu, HVEM irrad., ×., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80160
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)×.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80161. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80161
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80162. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80162
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80163. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

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資料番号: L-80163
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT過密.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80164. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80164
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80165. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80165
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　SFT少.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80166. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80166
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　SFT少.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80167. Cu, HVEM irrad., DF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80167
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80168. Cu, HVEM irrad., BF, 100K., 1992/1/10（金）.

 アイテム
資料番号: L-80168
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)HVEM irrad. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)」.

日付: 1992/1/10（金）.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80169. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 10K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)10K.

(備考)A-B obs.側　　重ね部. 日付元記載「1992. 1. 14」.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80170. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 10K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)10K.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80171. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　①.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80172. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　②.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80173. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　③.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80174. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80175. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80176. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 100 low mag., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)100 low mag.

(備考)A-B obs.側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80177. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80177
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B obs.側　　①.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80178. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B 反対側　　マスク　④.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80179. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80179
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑤.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80180. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑥.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80181. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80182. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)マスクfringe.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80183. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)もう少し厚い側.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80184. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., 1992. 1. 14.

 アイテム
資料番号: L-80184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: 1992. 1. 14.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80185. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 100 low mag., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)100 low mag.

(備考)C-D.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80186. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80187. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 1K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)1K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80188. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 1.5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)1.5K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80189. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80190. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80191. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)③.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80192. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

 アイテム
資料番号: L-80192
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)④.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80193. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)⑤.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80194. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80194
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80195. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80195
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80196. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)これが一番いいはず.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80197. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80198. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80199. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)C-D反対側 ①.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80200. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80201. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 3K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)3K.

(備考)①＋②.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80202. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)①＋②ぎりぎり.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80203. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)③.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80204. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (条件・倍率等)5K.

(備考)④.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80205. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, DF, 5K., [1992年1月14日.]

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資料番号: L-80205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年1月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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