電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80206. Ni, イオン照射用重ね合わせ試料　予写, ED, 55cm., [1992年1月14日.]

アイテム

資料番号: L-80206

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)イオン照射用重ね合わせ試料　予写. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80207. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80207

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B. 日付元記載「1992. 1. 18」.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80208. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80208

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80209. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80209

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80210. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80210

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80211. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80211

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)A-B 反対側.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80212. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80212

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80213. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80213

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80214. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 1K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80214

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)1K.

(備考)C-D.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80215. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 1K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80215

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)1K.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80216. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80216

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

(備考)C-D 反対側.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80217. Ni 照射後, 20MeV セルフイオン, 5K., 1992. 1. 18.

アイテム

資料番号: L-80217

範囲と内容

(試料)Ni 照射後. (照射条件)20MeV セルフイオン. (条件・倍率等)5K.

日付: 1992. 1. 18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80218. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80218

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考) A-B Grain a 　α A. 日付元記載「1/19」.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80219. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80219

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a 　α B.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80220. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80220

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a 　α C.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80221. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80221

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　C.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80222. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80222

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　D.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80223. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80223

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α　E.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80224. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80224

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a α F.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80225. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80225

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α A,B.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80226. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80226

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α C,D.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80227. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80227

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a α F.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80228. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80228

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain a.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80229. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80229

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain a C,D.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80230. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80230

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a β　B.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80231. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80231

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a β B.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80232. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80232

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain a β　F.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80233. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80233

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain a 　β F.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80234. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80234

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain a　 β　.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80235. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80235

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b A.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80236. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80236

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80237. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80237

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b C.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80238. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80238

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b D.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80239. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80239

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b E.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80240. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80240

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)A-B Grain b.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80241. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80241

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ボツ.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80242. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80242

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b　 A.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80243. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80243

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b E.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80244. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年]1/19.

アイテム

資料番号: L-80244

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A-B Grain b.

日付: [1992年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80245. Ni, 20MeV セルフイオン, ×., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80245

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80246. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80246

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b　 A.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80247. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80247

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b　 A.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80248. Ni, 20MeV セルフイオン, ×., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80248

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)×.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80249. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 100K., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80249

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80250. Ni, 20MeV セルフイオン, DF, 50K., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80250

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A-B Grain b B.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80251. Ni, 20MeV セルフイオン, ED, 55cm., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80251

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80252. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80252

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c A　以下α.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80253. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80253

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c B.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80254. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80254

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c C.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80255. Ni, 20MeV セルフイオン., [1992年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-80255

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)20MeV セルフイオン.

(備考)A-B Grain c D.

日付: [1992年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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