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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80406. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80406
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80407. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80407
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80408. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80408
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80409. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80409
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80410. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80410
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80411. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80411
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80412. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80412
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80413. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80413
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80414. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80414
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

(備考)Area B.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80415. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80415
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80416. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80416
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80417. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80417
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80418. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80418
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80419. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80419
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80420. Masked Cu, 21MeV Au+., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80420
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80421. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80421
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80422. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80422
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80423. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80423
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β over 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80424. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80424
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β over 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80425. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80425
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　under 3 steps.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80426. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., 1992. 2. 4.

 アイテム
資料番号: L-80426
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1992. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80427. Masked Cu, 21MeV Au+, DF, 100K., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80427
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80428. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80428
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80429. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80429
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80430. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80430
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area C α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80431. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80431
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80432. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80432
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area C β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80433. Masked Cu, 21MeV Au+, DF, 100K., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80433
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80434. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80434
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80435. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80435
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80436. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80436
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area D α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80437. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80437
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area D β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80438. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80438
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area D β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80439. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80439
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80440. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80440
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80441. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80441
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80442. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80442
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80443. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80443
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area E β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80444. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80444
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E β　　over exp.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80445. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80445
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area E β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80446. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80446
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80447. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80447
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80448. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80448
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80449. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80449
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F α.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80450. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80450
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area F β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80451. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

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資料番号: L-80451
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F β.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80452. Masked Cu, 21MeV Au+, DF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80452
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area F αに戻す.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80453. Masked Cu, 21MeV Au+, BF., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80453
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area F αに戻す.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80454. Masked Cu, 21MeV Au+, ED., [1992年2月4日.]

 アイテム
資料番号: L-80454
範囲と内容

(試料)Masked Cu. (照射条件)21MeV Au＋. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80455. Cu3Au, 21MeV Au6+ イオン照射　回折条件を色々変える, DF, 100K., [1992年]2/6.

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資料番号: L-80455
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (試料番号)21MeV Au6＋ イオン照射　回折条件を色々変える. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A. 日付元記載「2/6」.

日付: [1992年]2/6.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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