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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80920. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80920
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3min50sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80921. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80921
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)9min.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80922. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80922
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)途中でやめた.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80923. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80923
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)30min18sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80924. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80924
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)30min18sec.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80925. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80925
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)63min.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80926. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80926
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)析出物付近.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80927. NO2, DF., [1992年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-80927
範囲と内容

(試料)NO2. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)析出物付近.

日付: [1992年]2/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80928. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80928
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)交差付近. 日付元記載「2/24」.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80929. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80929
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)↓　下方向.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80930. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80930
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)↓　下方向.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80931. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80931
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)すぐ上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80932. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80932
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80933. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80933
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80934. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 30K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80934
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80935. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80935
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)3段になっているところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80936. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80936
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)単相のところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80937. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80937
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80938. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80938
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80939. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80939
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)すぐ下.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80940. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80940
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所　GB近く.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80941. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80941
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80942. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80942
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80943. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80943
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80944. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80944
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なり前.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80945. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80945
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)見える.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80946. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80946
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)完全に重なり　見えない.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80947. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80947
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)半分重なっている所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80948. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80948
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)半分重なっている所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80949. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80949
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なっていない中間部.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80950. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80950
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)重なっていない中間部.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80951. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80951
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)中央付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80952. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80952
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)中央付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80953. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, ED., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80953
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80954. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, BF, 50K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80954
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80955. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 50K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80955
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80956. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, ED., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80956
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)厚さ測定用.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80957. Ni(No.1), 1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒, DF, 30K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80957
範囲と内容

(試料)Ni(No.1). (照射条件)1MeV 4Heマスク照射(30μA,～300秒. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)左の交差部分　　」.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80958. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 30K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80958
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)試料の重なったところ. 日付元記載「2/24」.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80959. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 30K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80959
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)58と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80960. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80960
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80961. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80961
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)60と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80962. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80962
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)界面.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80963. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80963
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)62の都築少し内部.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80964. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80964
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)63と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80965. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80965
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)62と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80966. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 100K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80966
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Boundary付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80967. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 100K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80967
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)66と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80968. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, DF, 50K., [1992年]2/24.

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資料番号: L-80968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Boundary付近.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-80969. Ni, 1MeV 4He マスク照射　60μA, BF, 50K., [1992年]2/24.

 アイテム
資料番号: L-80969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)1MeV 4He マスク照射　60μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)68と同じところ.

日付: [1992年]2/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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