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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81070. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81070
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81071. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81071
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81072. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81072
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81073. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81073
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A ステレオ　面が合わない.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81074. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, DF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81074
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)面が合わない.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81075. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, BF, 100K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81075
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)GB付近.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81076. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81076
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81077. Ni, 0.5MeV He+ 照射　6μA, 50K., [1992年]2/27.

 アイテム
資料番号: L-81077
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 照射　6μA. (条件・倍率等)50K.

(備考)GBの差のないところ.

日付: [1992年]2/27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81095. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81095
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「3/7」.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81096. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81096
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81097. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81097
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)ビ－ムカット.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81098. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81098
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81099. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81099
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81100. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81100
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81101. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81101
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)ビームカットされる（フィルム動く）.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81102. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81102
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)100と同じ.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81103. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 100K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81103
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)良く見えるところ.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81104. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 100K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81104
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81105. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81105
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81106. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81106
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81107. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81107
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81108. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81108
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)フイルム送りトラブル.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81109. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81109
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)singleでも時間がたつとダメ.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81110. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81110
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81111. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81111
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81112. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), DF, 200K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81112
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81113. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec), BF, 200K., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81113
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec). (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81114. Ni, 500keV He+ 3μA(120sec)., [1992年]3/7.

 アイテム
資料番号: L-81114
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)500keV He＋ 3μA(120sec).

(備考)フイルム送りトラブル　　中止.

日付: [1992年]3/7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81115. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81115
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料.

(備考)カラ送りテスト. 日付元記載「3/12」.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81116. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81116
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)下と同じ場所.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81117. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 100K., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上と同じ場所.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81118. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DFF., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DFF. (反射ベクトルg)(110)＜100＞.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81119. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)組織がこわれている？.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81120. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 100K., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)（反射がうまくでない）.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81121. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DFF., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DFF. (反射ベクトルg)(013).

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81122. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 30K., [1992年]3/8.

 アイテム
資料番号: L-81122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)別のところ　　GB近く.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81123. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 30K., [1992年]3/8.

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資料番号: L-81123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)別のところ　　GB近く.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81124. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 50K., [1992年]3/8.

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資料番号: L-81124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)面が合わせにくい.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81125. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, BF, 50K., [1992年]3/8.

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資料番号: L-81125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)面が合わせにくい.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81126. Ni, 0.5MeV He+ 6μA試料, DF, 100K., [1992年]3/8.

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資料番号: L-81126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)0.5MeV He＋ 6μA試料. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)-100. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)多数の細かいdot.

日付: [1992年]3/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81127. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.

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資料番号: L-81127
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「3/24」.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81128. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.

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資料番号: L-81128
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81129. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81129
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81130. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81130
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81131. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81131
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81132. Cu, 120keV Cu+, BF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81132
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81133. Cu, 120keV Cu+, BF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81133
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81134. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81134
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81135. Cu, 120keV Cu+, BF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81135
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81136. Cu, 120keV Cu+, DF, 100K., [1992年]3/24.

 アイテム
資料番号: L-81136
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)120keV Cu＋. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]3/24.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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