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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81934. Cu, Cuイオン, 120kev, DF, 50K., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81934
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)　1-1.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81935. Cu, Cuイオン, 120kev, DF, 100K., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81935
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　1-1.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81936. Cu, Cuイオン, 120kev, DF, 50K., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81936
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)　3-1.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81937. Cu, Cuイオン, 120kev, DF, 50K., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81937
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)　3-2.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81938. Cu, Cuイオン, 120kev, ED., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81938
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81939. Cu, Cuイオン, 120kev, DF, 50K., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81939
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)　4-1.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81940. Cu, Cuイオン, 120kev, DF, 50K., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81940
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)　4-2.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81941. Cu, Cuイオン, 120kev, DF, 50K., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81941
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)　5-1.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81942. Cu, Cuイオン, 120kev, DF, 50K., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81942
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン. (照射量)120kev. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)　5-2.

日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81943., [1992年7月15日.]

 アイテム
資料番号: L-81943
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1992年7月15日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81944. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81944
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)No.5前回つづき　外円部. 日付元記載「7/16」.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81945. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81945
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81946. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81946
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81947. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81947
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81948. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81948
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81949. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81949
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81950. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81950
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81951. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81951
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81952. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81952
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)露出オーバ　2段逆4秒.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81953. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81953
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)2秒.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81954. Ni, Heイオン, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81954
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81955. Ni, Heイオン, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81955
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81956. Ni, Heイオン, BF, 30K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81956
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)うすいところにはない.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81957. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81957
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)200.

(備考)S1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81958. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81958
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SD1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81959. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81959
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SD2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81960. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81960
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SL1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81961. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81961
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SL1.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81962. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81962
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)SL3.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81963. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81963
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)-200.

(備考)SL2.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81964. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81964
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)外　α.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81965. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81965
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内　α.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81966. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81966
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)内　α.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81967. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81967
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)外　α.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81968. Ni, Heイオン, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81968
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81969. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81969
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)DF同じところ.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81970. Ni, Heイオン, ED., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81970
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)BF同じところ.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81971. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81971
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81972. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

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資料番号: L-81972
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81973. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

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資料番号: L-81973
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　ゴミの左.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81974. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

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資料番号: L-81974
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　ゴミの右.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81975. Ni, Heイオン, 10K., [1992年]7/16.

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資料番号: L-81975
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (条件・倍率等)10K.

(備考)ごみのあるところ数10cm右動いた所.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81976. Ni, Heイオン, BF, 50K., [1992年]7/16.

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資料番号: L-81976
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)もとに戻す.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81977. Ni, Heイオン, DF, 50K., [1992年]7/16.

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資料番号: L-81977
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81978. Ni, Heイオン., [1992年]7/16.

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資料番号: L-81978
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン.

(備考)失敗　中の穴のみ.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81979. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81979
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81980. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81980
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81981. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81981
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81982. Ni, Heイオン, BF, 100K., [1992年]7/16.

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資料番号: L-81982
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)内.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-81983. Ni, Heイオン, DF, 100K., [1992年]7/16.

 アイテム
資料番号: L-81983
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)外.

日付: [1992年]7/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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