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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82203. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82203
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)Area ③.

日付: [1992年]7/23.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82204. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 150K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82204
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s=6.

(備考)Area ③.

日付: [1992年]7/23.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82207. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 50K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82207
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=4.

(備考)Area④.

日付: [1992年]7/23.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82209. Ag, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]7/23.

 アイテム
資料番号: L-82209
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)Area④.

日付: [1992年]7/23.