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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82295. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., [1992年]9/12.

 アイテム
資料番号: L-82295
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Area14. 日付元記載「9/12」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1992年]9/12.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82301. Cu, Cuイオン照射120keV, BF, 15K., [1992年]9/17.

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資料番号: L-82301
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

(備考)日付元記載「9/17」. 実験者元記載「福田」.

日付: [1992年]9/17.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82340. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]9/17.

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資料番号: L-82340
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=5.

(備考)s=5はBFのDEでDFではもっとはずれている.

日付: [1992年]9/17.