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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82707. V, 59K., [1992年]10/28.

 アイテム
資料番号: L-82707
範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)CW後焼鈍フォルダー②10%引張り -9 0α. 日付元記載「10/28」.

日付: [1992年]10/28.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82725. V, 59K., [1992年]10/28.

 アイテム
資料番号: L-82725
範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)59K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)R=2cm. 日付元記載「10/28」.

日付: [1992年]10/28.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82729. V, 59K., [1992年]10/28.

 アイテム
資料番号: L-82729
範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)59K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考) ↑726とほぼ同じ.

日付: [1992年]10/28.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-82738. Cu, Cuイオン照射60keV,90keV, DF, 100K., [1992年]11/1(日).

 アイテム
資料番号: L-82738
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60keV,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)日付元記載「11/1(日)」. 実験者元記載「福田」.

日付: [1992年]11/1(日).