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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83248. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83248
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)E-1　B’.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83249. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83249
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83250. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83250
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E-1　B’.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83251. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83251
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)E-2.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83252. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83252
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)E-2.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83253. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83253
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)F-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83254. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83254
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)F-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83255. Cu, Cuイオン照射60,90keV., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83255
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83256. Cu, Cuイオン照射60,90keV, ED., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83256
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)F-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83257. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83257
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)G-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83258. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83258
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)G-1　B.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83259. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83259
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)G-1　B.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83260. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83260
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G-1　A’.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83261. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83261
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83262. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83262
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G-1　.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83264. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83264
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)？100sec.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83265. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83265
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)G-2.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83266. Cu, Cuイオン照射60,90keV., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83266
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV.

(備考)失敗.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83267. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83267
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)H-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83268. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83268
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)H-1　B.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83269. Cu, Cuイオン照射60,90keV, ED., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83269
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83270. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83270
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)H-1　A’.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83271. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83271
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)H-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83272. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83272
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83273. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83273
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83274. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83274
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)I-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83275. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83275
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)I-1　B.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83276. Cu, Cuイオン照射60,90keV, ED., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83276
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83277. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83277
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)I-1　A’.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83278. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83278
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)I-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83279. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83279
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)I-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83280. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83280
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)I-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83281. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83281
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)J-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83282. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83282
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)J-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83283. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83283
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)J-2.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83284. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83284
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)J-2.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83285. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83285
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)J-3.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83286. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83286
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)K-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83287. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83287
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)K-1　B.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83288. Cu, Cuイオン照射60,90keV, ED., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83288
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83289. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83289
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)K-1　A’.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83290. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83290
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)K-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83291. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83291
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)K-1　A.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83292. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83292
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)K-1　B'.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83293. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83293
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)L-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83294. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83294
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

(備考)L-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83295. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83295
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

(備考)M-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83296. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 50K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83296
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

(備考)M-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83297. Cu, Cuイオン照射60,90keV, DF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83297
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)M-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-83298. Cu, Cuイオン照射60,90keV, BF, 100K., [1992年11月18日.]

 アイテム
資料番号: L-83298
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射60,90keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)M-1.

日付: [1992年11月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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