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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84366. Cu, Cuイオン照射120keV, DF, 100K., [1992年]11/26.

 アイテム
資料番号: L-84366
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)e-irrd前 α-13.5黒12-15(300)A. 日付元記載「11/26」.

日付: [1992年]11/26.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84380. Cu, Cuイオン照射120keV+e-irrd後, DF, 100K., [1992年]11/27.

 アイテム
資料番号: L-84380
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射120keV+e-irrd後. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α -14黒15-18(80)A. 日付元記載「11/27」.

日付: [1992年]11/27.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84397. Ni., [1992年]11/30(月).

 アイテム
資料番号: L-84397
範囲と内容

(試料)Ni. (反射ベクトルg)220.

(備考)gの正負 おくり Con3 ①(200) α. 日付元記載「11/30(月)」. 実験者元記載「大浦」.

日付: [1992年]11/30(月).