電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84468. Ni, DF., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84468

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84469. Ni, ED., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84469

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84470. Ni, DF, 50K., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84470

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84471. Ni, BF., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84471

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84472. Ni, BF, 50K., [1992年]12/5（土）.

アイテム

資料番号: L-84472

範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1992年]12/5（土）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84473. Cu, T201, JMTRサイクルII-A, BF, 20K., [1992年]12/7（月）.

アイテム

資料番号: L-84473

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T201. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)ゴミ？が全面に付着　観察不可能. 日付元記載「12/7（月）」.

日付: [1992年]12/7（月）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84474. Cu, T201, JMTRサイクルII-A, BF, 20K., [1992年]12/7（月）.

アイテム

資料番号: L-84474

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T201. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1992年]12/7（月）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84475. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84475

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1st　obs. 日付元記載「1992. 12. 7」. 実験者元記載「三間＆桐谷」.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84476. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84476

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84477. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84477

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84478. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84478

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.

(備考)矢印入り.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84479. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84479

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84480. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, BF, 50K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84480

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84481. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, 1K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84481

範囲と内容

(試料)Ag. (試料番号)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)1K.

(備考)矢印入り.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84482. ？, BF, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84482

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)日付元記載「1992. 12. 7 pm 18:00」. 実験者元記載「加藤＆桐谷」.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84483. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84483

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84484. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84484

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84485. ？, BF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84485

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84486. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84486

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)SAED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84487. ？., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84487

範囲と内容

(試料)？.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84488. ？, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84488

範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)20K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84489. ？, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84489

範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84490. ？, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84490

範囲と内容

(試料)？. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84491. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84491

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84492. ？, BF, 20K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84492

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84493. ？, BF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84493

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84494. ？, ED., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84494

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84495. ？, DF, 50K., 1992. 12. 7 pm 18:00.

アイテム

資料番号: L-84495

範囲と内容

(試料)？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1992. 12. 7 pm 18:00.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84496. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84496

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2nd　1　ダミー部分. 日付元記載「1992. 12. 7」. 実験者元記載「三間」.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84497. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84497

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84498. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84498

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)3.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84499. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84499

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)4.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84500. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84500

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)5.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84501. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84501

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)6.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84502. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84502

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)7.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84503. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84503

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)8.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84504. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84504

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)9.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84505. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84505

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)10.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84506. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84506

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)11.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84507. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84507

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)12.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84508. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84508

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)13.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84509. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84509

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)14.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84510. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84510

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)15同じグレイン.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84511. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84511

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)16同じグレイン.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84512. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84512

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)17.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84513. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84513

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)18.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84514. Ag, Cuイオン照射100keV, DF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84514

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)19同じところ.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84515. Ag, Cuイオン照射100keV, BF, 100K., 1992. 12. 7.

アイテム

資料番号: L-84515

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)20同じところ.

日付: 1992. 12. 7.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84516. Cu, T205, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月7.]

アイテム

資料番号: L-84516

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T205. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　-5.0黒5（340）. 実験者元記載「多田」.

日付: [1992年12月7.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84517. Cu, T205, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月7.]

アイテム

資料番号: L-84517

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T205. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0（s＝1）.

日付: [1992年12月7.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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