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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84618. BaSe, 50K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84618
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)4.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84619. BaSe, 50K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84619
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)50K.

(備考)3.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84620. BaSe, 100K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84620
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84621. BaSe, 100K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84621
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84622. BaSe, 100K., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84622
範囲と内容

(試料)BaSe. (条件・倍率等)100K.

(備考)350℃　10min　anneal　5.8mV　0.750A.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84623. BaSe., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84623
範囲と内容

(試料)BaSe.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84624. BaSe., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84624
範囲と内容

(試料)BaSe.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84625. BaSe., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84625
範囲と内容

(試料)BaSe.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84626. BaSe., [1992年12月8日.]

 アイテム
資料番号: L-84626
範囲と内容

(試料)BaSe.

日付: [1992年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84628. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84628
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α＋2.5赤23（340）. 日付元記載「12/10」. 実験者元記載「多田」.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84629. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84629
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84630. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84630
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84631. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84631
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84632. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84632
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84633. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84633
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84634. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84634
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84635. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84635
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84636. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84636
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84637. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84637
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84638. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84638
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β＋7赤23（100）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84639. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84639
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84640. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84640
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84641. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84641
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84642. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84642
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84643. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84643
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84644. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84644
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84645. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84645
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84646. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84646
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84647. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, BF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84647
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)　-10赤1（200）. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84648. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84648
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84649. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84649
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84650. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84650
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84651. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, ED., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84651
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84652. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84652
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84653. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84653
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84654. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84654
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84655. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84655
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別の視野　α　-5黒1(280).

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84656. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, BF, 100K., [1992年12月10日.]

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資料番号: L-84656
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84657. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, BF, 50K., [1992年12月10日.]

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資料番号: L-84657
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84658. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

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資料番号: L-84658
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84659. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, ED., [1992年12月10日.]

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資料番号: L-84659
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84660. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84660
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84661. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84661
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84662. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84662
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-8黒9（0）.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84663. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, BF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84663
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84664. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, BF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84664
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84665. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84665
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84666. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, ED., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84666
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84667. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84667
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84668. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84668
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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