メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84669. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84669
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84670. Cu-2Ni, T242, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84670
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)T242. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84671. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84671
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84672. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84672
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じ.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84673. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84673
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)同じ.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84674. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 100K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84674
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84675. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, DF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84675
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84676. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 50K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84676
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84677. Cu-2Si, T272, JMTRサイクルII-B, BF, 20K., [1992年12月10日.]

 アイテム
資料番号: L-84677
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T272. (照射条件)JMTRサイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年12月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84678. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84678
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84679. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84679
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84680. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84680
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84681. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84681
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84682. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84682
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84683. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84683
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84684. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84684
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84685. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84685
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84686. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84686
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84687. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84687
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84688. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84688
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84689. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84689
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84690. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84690
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84691. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84691
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84692. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84692
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84693. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, BF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84693
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84694. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84694
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84695. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, ED., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84695
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84696. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 50K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84696
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84697. Cu←He+, Heイオン照射, 0.22E19He/m＾2, DF, 100K., 1992 12/10.

 アイテム
資料番号: L-84697
範囲と内容

(試料)Cu←He＋. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.22E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1992 12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84698. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84698
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)粒界近傍. 日付元記載「12/10」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84699. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84699
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84700. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84700
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84701. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84701
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84702. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84702
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84703. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84703
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84704. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 20K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84704
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)粒界近傍.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84705. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84705
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84706. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84706
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84707. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84707
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84708. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84708
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84709. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84709
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84710. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84710
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84711. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 30K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84711
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)うすすぎる.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84712. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84712
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　9黒1.5（220）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84713. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84713
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84714. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84714
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84715. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84715
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84716. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾3, ED., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84716
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾3. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84717. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84717
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　-14赤7（240）.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84718. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 50K., [1992年]12/10.

 アイテム
資料番号: L-84718
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ