電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84719. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, BF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84719

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84720. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84720

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84721. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84721

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84722. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84722

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84723. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84723

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84724. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84724

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)3本とばし.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84725. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84725

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)3本とばし.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84726. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, ED., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84726

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84727. Cu, Heイオン照射, 0.88E19He/m＾2, DF, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84727

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.88E19He/m＾2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)非点あり！Boundary近傍　.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84728. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84728

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/10」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84729. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84729

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84730. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84730

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84731. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84731

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84732. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84732

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84733. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84733

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84734. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84734

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84735. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84735

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84736. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84736

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　２１．８黒23（300）.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84737. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84737

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84738. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84738

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84739. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84739

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84740. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84740

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84741. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84741

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　１４．８黒18（120）.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84742. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 50K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84742

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84743. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, DE, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84743

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84744. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84744

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84745. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84745

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A.

(備考)ミス.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84746. Ni-2Sn, JMTRサイクルII-A, ED., [1992年]12/10.

アイテム

資料番号: L-84746

範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/10.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84747. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84747

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　＋4黒3（70）. 日付元記載「12/11」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84748. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84748

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84749. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84749

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84750. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84750

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84751. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84751

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84752. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84752

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84753. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84753

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84754. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84754

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋11黒6（60）.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84755. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84755

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84756. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84756

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84757. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84757

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84758. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84758

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84759. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84759

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84760. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, ED., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84760

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84761. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84761

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84762. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84762

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84763. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84763

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84764. Cu, Heイオン照射, 0.44E9He/m^2, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84764

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.44E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84765. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84765

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　-16黒6（120）. 日付元記載「12/11」. 実験者元記載「by Kiz」.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84766. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84766

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84767. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84767

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84768. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84768

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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