電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84769. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84769

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84770. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^3, ED., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84770

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^3. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84772. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84772

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84773. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84773

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84774. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84774

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　-18黒12（120）.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84775. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84775

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84776. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84776

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84777. Cu, Heイオン照射, 0.11E9He/m^2, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84777

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)0.11E9He/m^2. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84778. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84778

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/11」. 実験者元記載「林」.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84779. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84779

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84780. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84780

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84781. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84781

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84782. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84782

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84783. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84783

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84784. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84784

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84785. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84785

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84786. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84786

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84787. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84787

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84788. Ni, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84788

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84789. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84789

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84790. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84790

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84791. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84791

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84792. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84792

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84793. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84793

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84794. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84794

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84795. Ni, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84795

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84796. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84796

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84797. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84797

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84798. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84798

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84799. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84799

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84800. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84800

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84801. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84801

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84802. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84802

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84803. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84803

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84804. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84804

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84805. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84805

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84806. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84806

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84807. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84807

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84808. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84808

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「12/11」. 実験者元記載「林」.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84809. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84809

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84810. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84810

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84811. Ni, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84811

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84812. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84812

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84813. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84813

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84814. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84814

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84815. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84815

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84816. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84816

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84817. Ni, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84817

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84818. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84818

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84819. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

アイテム

資料番号: L-84819

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

もっと詳しく '電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series'

追加の絞り込み:

38364 コレクションおよび/またはレコード表示: