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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85002. Ni, 100K., [1992年]12/14.

 アイテム
資料番号: L-85002
範囲と内容

(試料)Ni. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)gの正負 ③?. 日付元記載「12/14」. 実験者元記載「大浦」.

日付: [1992年]12/14.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85019. Cu3Au, Cuイオン照射, 30sec, DF, 100K., [1992年]12/15.

 アイテム
資料番号: L-85019
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)nomal α A. 日付元記載「12/15」.

日付: [1992年]12/15.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85022. Cu3Au, Cuイオン照射, 30sec, DF, 100K., [1992年]12/15.

 アイテム
資料番号: L-85022
範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射. (照射量)30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)nomal α A.

日付: [1992年]12/15.