電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85223. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

アイテム

資料番号: L-85223

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)nomal.

日付: [1992年]12/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85224. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

アイテム

資料番号: L-85224

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)nomal.

日付: [1992年]12/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85225. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 60sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

アイテム

資料番号: L-85225

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)60sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)order？.

日付: [1992年]12/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85226. Cu3Au, Cuイオン照射100keV, 110sec, DF, 100K., [1992年]12/17.

アイテム

資料番号: L-85226

範囲と内容

(試料)Cu3Au. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射量)110sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)normal.

日付: [1992年]12/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85227. Cu3Au., [1992年]12/17.

アイテム

資料番号: L-85227

範囲と内容

(試料)Cu3Au.

日付: [1992年]12/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85229. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85229

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　-14.1赤2（280）. 日付元記載「12/19」. 実験者元記載「霜島」（”霧島”の誤りか）.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85230. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85230

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85231. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85231

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85232. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85232

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85233. Ag, Heイオン照射, ED., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85233

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85234. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85234

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85235. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85235

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85236. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85236

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85237. Ag, Heイオン照射, ED., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85237

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85238. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85238

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85239. Ag, Heイオン照射, BF., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85239

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)失敗　β　-21.5赤0.5（340）.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85240. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85240

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85241. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85241

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85242. Ag, Heイオン照射., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85242

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射.

(備考)β.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85243. Ag, Heイオン照射, ED., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85243

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85244. Ag, Heイオン照射, BF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85244

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-15.5赤6（60）.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85245. Ag, Heイオン照射, DF, 100K., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85245

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85246. Ag, Heイオン照射, ED., [1992年]12/19.

アイテム

資料番号: L-85246

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85248. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85248

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）. 日付元記載「12/20」. 実験者元記載「井上」.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85249. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85249

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85250. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85250

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85251. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85251

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85252. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85252

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85253. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85253

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85254. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85254

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85255. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85255

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85256. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85256

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85257. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85257

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85258. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85258

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85259. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85259

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85260. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85260

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85261. 100C-I, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85261

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85262. 100C-I, 50K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85262

範囲と内容

(試料)100C-I. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85263. V, 50K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85263

範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）. 日付元記載「12/20」. 実験者元記載「井上」.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85264. V, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85264

範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85265. V, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85265

範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85266. V, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85266

範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85267. V, 50K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85267

範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85268. V, 50K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85268

範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85269. V, 100K., [1992年]12/20.

アイテム

資料番号: L-85269

範囲と内容

(試料)V. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)（111）.

日付: [1992年]12/20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85270. Ni, JMTRサイクルII-A, BF, 50K., [1992年]12/21.

アイテム

資料番号: L-85270

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「12/21」. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1992年]12/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85271. Ni, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/21.

アイテム

資料番号: L-85271

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　10.5黒19（220）.

日付: [1992年]12/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85272. Ni, JMTRサイクルII-A, BF, 100K., [1992年]12/21.

アイテム

資料番号: L-85272

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85273. Ni, JMTRサイクルII-A, DF, 100K., [1992年]12/21.

アイテム

資料番号: L-85273

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85274. Ni, JMTRサイクルII-A, DF, 50K., [1992年]12/21.

アイテム

資料番号: L-85274

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRサイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/21.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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