電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85530. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85530

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　1.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85531. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85531

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　1.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85532. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85532

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　area　1.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85533. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85533

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　area　1.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85534. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85534

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α＋20.0赤（212）　area　2.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85535. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85535

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　area　2.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85536. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85536

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　area　2.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85537. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85537

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　area　2.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85538. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85538

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　12.2赤5（40）　area　2.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85539. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85539

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　2.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85540. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85540

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　area　2.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85541. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年]2/27.

アイテム

資料番号: L-85541

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　2.

日付: [1993年]2/27.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85542. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85542

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-10.0赤18（175）area　3. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85543. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85543

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85544. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85544

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85545. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85545

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-6.0赤10（338）　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85546. Ag, Cuイオン照射, 400℃, DF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85546

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85547. Ag, Cuイオン照射, 400℃, ED., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85547

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　area　3.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85548. Ag, Cuイオン照射, 400℃, BF, 50K., [1993年2月27日.]

アイテム

資料番号: L-85548

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　.

日付: [1993年2月27日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85549. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85549

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　＋7黒0-3（300）A. 日付元記載「12/28」.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85550. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85550

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　A.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85551. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85551

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85552. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85552

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　B.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85553. Ag, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85553

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85554. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85554

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85555. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85555

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85556. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85556

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85557. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85557

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85558. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85558

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　＋17黒9（0）.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85559. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85559

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85560. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85560

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85561. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85561

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85562. Ag, Heイオン照射1MeV, ED., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85562

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85563. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85563

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85564. Ag, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85564

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85565. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 150K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85565

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋17.黒9（0）.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85566. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85566

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85567. Ag, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85567

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85568. Ag, Heイオン照射1MeV., [1992年]12/28.

アイテム

資料番号: L-85568

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Heイオン照射1MeV.

(備考)失敗.

日付: [1992年]12/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85569. JPCAM, サイクルII-A, BF, 20K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85569

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「'93. 1. 4」.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85570. JPCAM, サイクルII-A, BF, 50K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85570

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85571. JPCAM, サイクルII-A, BF, 100K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85571

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85572. JPCAM, サイクルII-A, ED., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85572

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85573. JPCAM, サイクルII-A, DF, 50K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85573

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85574. JPCAM, サイクルII-A, DF, 100K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85574

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85575. JPCAM, サイクルII-A, DF, 50K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85575

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85576. JPCAM, サイクルII-A, DF, 50K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85576

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85577. JPCAM, サイクルII-A, DF, 100K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85577

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85578. JPCAM, サイクルII-A, ED., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85578

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85579. JPCAM, サイクルII-A, BF, 20K., [19]'93. 1. 4.

アイテム

資料番号: L-85579

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)サイクルII-A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'93. 1. 4.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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