電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85841. TiC, ED., [1993年]1/13.

アイテム

資料番号: L-85841

範囲と内容

(試料)TiC. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85842. TiC, BF, 30K., [1993年]1/13.

アイテム

資料番号: L-85842

範囲と内容

(試料)TiC. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1993年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85843. TiC, BF., [1993年]1/13.

アイテム

資料番号: L-85843

範囲と内容

(試料)TiC. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85844. TiC, BF., [1993年]1/13.

アイテム

資料番号: L-85844

範囲と内容

(試料)TiC. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85846. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85846

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1/16」.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85847. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85847

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85848. SUS, サイクル, BF, 50K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85848

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85849. SUS, サイクル, ED., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85849

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85850. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85850

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85851. SUS, サイクル, DF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85851

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85852. SUS, サイクル, DF, 50K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85852

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85853. SUS, サイクル, DF, 50K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85853

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85854. SUS, サイクル, DF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85854

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85855. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85855

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85856. SUS, サイクル, BF, 50K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85856

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85857. SUS, サイクル., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85857

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85858. SUS, サイクル, DF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85858

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85859. SUS, サイクル, DF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85859

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85860. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85860

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85861. SUS, サイクル, BF, 50K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85861

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85862. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85862

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85863. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85863

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85864. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85864

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85865. SUS, サイクル, ED., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85865

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85866. SUS, サイクル, DF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85866

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85867. SUS, サイクル, BF, 20K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85867

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85868. SUS, サイクル, BF, 50K., [1993年]1/16.

アイテム

資料番号: L-85868

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)サイクル. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]1/16.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85869. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, 100., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85869

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100.

(備考)1st　obs.　For map. 日付元記載「1/19」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85870. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, 100., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85870

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100.

(備考)For map.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85871. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, 100., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85871

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100.

(備考)For map.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85872. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85872

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)dummy部.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85873. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85873

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 4 α　-20.0黒8（335）.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85874. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85874

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85875. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, ED., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85875

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85876. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85876

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-12.5黒3（224）.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85877. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85877

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85878. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, BF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85878

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85879. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85879

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area　5　α　＋9.4赤6（177）.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85880. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85880

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85881. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, ED., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85881

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85882. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85882

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋12.0赤01　100.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85883. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85883

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85884. Ag, Cuイオン照射100keV, 200℃, DF, 50K., [1993年]1/19.

アイテム

資料番号: L-85884

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]1/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85885. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 73K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85885

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

(備考)5th　obs.　Area　6　α　-5.0赤2（182）. 実験者元記載「三間」.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85886. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85886

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85887. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, ED., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85887

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85888. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 73K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85888

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

(備考)β　＋5.0赤3（240）.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85889. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85889

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85890. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, BF, 50K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85890

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-85891. Ag, Cuイオン照射100keV, 400℃, DF, 50K., [1993年1月19日.]

アイテム

資料番号: L-85891

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射100keV. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Area　7　α＋12.60（260）.

日付: [1993年1月19日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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