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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86306. SUS, e-irrad, DF, 100K., [1993年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-86306
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irrad. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)日付元記載「2/17」. 実験者元記載「小島」.

日付: [1993年]2/17.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86312. VC, No1, ED., [1993年]2/17.

 アイテム
資料番号: L-86312
範囲と内容

(試料)VC. (試料番号)No1. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)110.

(備考)規則 82cm. 日付元記載「2/17」. 実験者元記載「加ト」.

日付: [1993年]2/17.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-86340. Ni-2Si, サイクルII-B, BF, 30K., [1993年]2/19.

 アイテム
資料番号: L-86340
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)α 7赤0(140).

日付: [1993年]2/19.