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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87205. Ag, Cuイオン照射&HVEM, DF., [1993年]4/20.

 アイテム
資料番号: L-87205
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cuイオン照射&HVEM. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)A α+1.0黒7(220)G逆.

日付: [1993年]4/20.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87241. Cu, Cuイオン照射, 0.4K., [1993年]4/27.

 アイテム
資料番号: L-87241
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (条件・倍率等)0.4K.

(備考)以下50まで 400X condenserいっぱい広げて0.7sec expose. 日付元記載「4/27」. 実験者元記載「木塚」.

日付: [1993年]4/27.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87251. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]4/28.

 アイテム
資料番号: L-87251
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)(93.3.18irr)3000Xで確認のこと A +25赤18(200). 日付元記載「4/28」. 実験者元記載「木塚」.

日付: [1993年]4/28.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87252. Cu, Cuイオン照射, DF, 100K., [1993年]4/28.

 アイテム
資料番号: L-87252
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)A +25赤18(200).

日付: [1993年]4/28.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87253. Cu, Cuイオン照射, DF, 50K., [1993年]4/28.

 アイテム
資料番号: L-87253
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Cuイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)A +25赤18(200).

日付: [1993年]4/28.