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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87666. Cu, Heイオン照射1MeV, ED., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87666
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87667. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87667
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87668. Cu, Heイオン照射1MeV, DF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87668
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β＋4黒6（40）.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87669. Cu, Heイオン照射1MeV, BF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87669
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87670. Cu, Heイオン照射1MeV, BF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87670
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87671. Cu, Heイオン照射1MeV., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87671
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV.

(備考)α＋15黒6（120）.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87672. Cu, Heイオン照射1MeV., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87672
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87673. Cu, Heイオン照射1MeV., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87673
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87674. Cu, Heイオン照射1MeV, ED., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87674
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87675. Cu, Heイオン照射1MeV., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87675
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β＋25赤6（80）.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87676. Cu, Heイオン照射1MeV., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87676
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87677. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87677
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)by　Kiz　③　α-20黒0（200）. 実験者元記載「by Kiz.」.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87678. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87678
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87679. Cu, Heイオン照射1MeV, ED., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87679
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87680. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87680
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-28黒0（300）.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87681. Cu, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87681
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87682. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87682
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87683. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87683
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-26黒6（280）.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87684. Cu, Heイオン照射1MeV, ED., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87684
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87685. Cu, Heイオン照射1MeV, DF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87685
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87686. Cu, Heイオン照射1MeV, DF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87686
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87687. Cu, Heイオン照射1MeV, DF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87687
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87688. Cu, Heイオン照射1MeV, BF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87688
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87689. Cu, Heイオン照射1MeV, DF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87689
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-34黒12（220）.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87690. Cu, Heイオン照射1MeV, BF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87690
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87691. Cu, Heイオン照射1MeV, BF., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87691
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87692. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87692
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)⑤　again　⑤　α　＋1赤6（140）. 実験者元記載「by Kiz.」.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87693. Cu, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87693
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87694. Cu, Heイオン照射1MeV, ED., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87694
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87695. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87695
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　0　赤0（320）.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87696. Cu, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1993年6月1日.]

 アイテム
資料番号: L-87696
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年6月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87697. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87697
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)失敗. 日付元記載「6/1」.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87698. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87698
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)失敗.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87699. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87699
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87700. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87700
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87701. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87701
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)004　-540.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87702. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87702
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87703. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

 アイテム
資料番号: L-87703
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87704. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

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資料番号: L-87704
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87705. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

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資料番号: L-87705
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87706. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

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資料番号: L-87706
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87707. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

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資料番号: L-87707
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)39　R5(40).

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87708. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

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資料番号: L-87708
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87709. Ni, Heイオン照射, ED., [1993年]6/1.

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資料番号: L-87709
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)110.

(備考)（200）.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87710. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/1.

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資料番号: L-87710
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)・99　-178.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87711. Ni, Heイオン照射, BF, 100K., [1993年]6/1.

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資料番号: L-87711
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87717. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

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資料番号: L-87717
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「6/2」.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87718. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87718
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87719. Ni, Heイオン照射, DF, BF., [1993年]6/2.

 アイテム
資料番号: L-87719
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-87720. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., [1993年]6/2.

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資料番号: L-87720
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　＋29黒12（60）.

日付: [1993年]6/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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