電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88024. Cu, T02, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88024

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　-18黒6（80）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88025. Cu, T02, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88025

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)β.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88026. Cu, T02, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88026

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88027. Cu, T02, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88027

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88028. Cu, T02, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88028

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88029. Cu, T02, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88029

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88030. Cu, T02, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88030

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88031. Cu, T02, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88031

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88032. Cu, T02, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88032

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　0.0赤5.5（140）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88033. Cu, T02, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88033

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88034. Cu, T02, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88034

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88035. Cu, T02, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88035

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88036. Cu, T02, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88036

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋5.3赤10.5（300）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88037. Cu, T02, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88037

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88038. Cu, T02, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88038

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88039. Cu, T02, LAMPF, position3・B, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88039

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)2 1/2　just.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88040. Cu, T02, LAMPF, position3・B, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88040

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (条件・倍率等)100K.

(備考)2 1/2　over　2　step.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88041. Cu, T02, LAMPF, position3・B, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88041

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (条件・倍率等)100K.

(備考)2 1/2　over　5　step.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88042. Cu, T02, LAMPF, position3・B, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88042

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (条件・倍率等)100K.

(備考)2 1/2　under　2　step.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88043. Cu, T02, LAMPF, position3・B, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88043

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (条件・倍率等)100K.

(備考)2 1/2　under　5　step.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88044. Cu, T02, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88044

範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T02. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88045. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88045

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)＋2.5黒16（720）. 日付元記載「6/25」.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88046. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B, ED., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88046

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88047. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B, DF., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88047

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88048. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B, BF., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88048

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88049. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88049

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

(備考)＋7.5黒8（60）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88050. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88050

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

(備考)＋7.5黒8（60）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88051. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88051

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

(備考)＋7.5黒8（60）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88052. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88052

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

(備考)＋7.5黒8（60）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88053. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88053

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

(備考)＋7.5黒8（60）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88054. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88054

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

(備考)＋7.5黒8（60）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88055. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88055

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

(備考)＋7.5黒8（60）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88056. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B., [1993年]6/25.

アイテム

資料番号: L-88056

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B.

(備考)＋7.5黒8（60）.

日付: [1993年]6/25.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88057. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88057

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)前頁つづき. 実験者元記載「小笠原」.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88058. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88058

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88059. Cu-2Sn, H92, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88059

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)H92. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88060. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88060

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88061. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88061

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88062. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88062

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2 1/2　Over 4 step.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88063. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88063

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2 1/2　Over 2 step.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88064. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88064

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)just.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88065. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88065

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2 1/2　Under 2 step.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88066. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88066

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2 1/2　Under 4 step.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88067. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88067

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-11.3黒23（260）.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88068. Ni, LAMPF, BF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88068

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88069. Ni, LAMPF, ED., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88069

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88070. Ni, LAMPF, DF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88070

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　-7.4黒11.5（100）.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88071. Ni, LAMPF, BF., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88071

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88072. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88072

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88073. Ni, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月25日.]

アイテム

資料番号: L-88073

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年6月25日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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