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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88124. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88124
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)β.

日付: [1993年]6/26.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88126. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, DF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88126
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=1~2.

日付: [1993年]6/26.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88127. Cu-2Si, T32, LAMPF, position3・B, BF, 100K., [1993年]6/26.

 アイテム
資料番号: L-88127
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T32. (照射条件)LAMPF. (照射量)position3・B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0~1.

日付: [1993年]6/26.