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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88276. Ag, LAMPF, DF, 100K., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88276
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)δ +1.2黒0.5(0).

日付: [1993年6月29日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88284. Ni, Heイオン照射, DF, 100K., 1993. 6. 29.

 アイテム
資料番号: L-88284
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)試料状態check ~1min. 日付元記載「1993. 6. 29」. 実験者元記載「Hayashi Kiritani」.

日付: 1993. 6. 29.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88294. ?, irr.後, BF, 30K., [1993年6月29日.]

 アイテム
資料番号: L-88294
範囲と内容

(試料)?. (照射条件)irr.後. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)α -1.5赤0-6(120)Area A うすい. 実験者元記載「by お」.

日付: [1993年6月29日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88319. JPCAM, BF, 20K., [1993年]6. 30.

 アイテム
資料番号: L-88319
範囲と内容

(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)α 0.0 0. 日付元記載「6. 30」.

日付: [1993年]6. 30.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88325. JPCAM, DF, 100K., [1993年]6. 30.

 アイテム
資料番号: L-88325
範囲と内容

(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)tilt+1 赤0(100).

日付: [1993年]6. 30.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-88326. JPCAM, DF, 150K., [1993年]6. 30.

 アイテム
資料番号: L-88326
範囲と内容

(試料)JPCAM. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

(備考)tilt+1 赤0(100).

日付: [1993年]6. 30.