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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91751. Cu-2Ge, T78, LASREF, 7, BF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91751
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T78. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91752. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91752
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「1/20」.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91753. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, BF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91753
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91754. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91754
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91755. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91755
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91756. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, BF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91756
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91757. Cu-2Si, T38, LASREF, 7, DF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91757
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)T38. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91758. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91758
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋14黒18（0）. 日付元記載「1/21」.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91759. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91759
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91760. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, DF., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91760
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋8黒12（20）.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91761. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, BF., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91761
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91762. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, ED., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91762
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91763. Cu-0.3Si, T32, LASREF, 3, DF., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91763
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T32. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91764. Cu-2Ge, T76, LASREF, 3, DF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91764
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T76. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「1/20」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91765. Cu-2Ge, T76, LASREF, 3, BF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91765
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T76. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91766. Cu-2Ge, T76, LASREF, 3, DF., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91766
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T76. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91767. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91767
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-1赤6（20）. 日付元記載「1/21」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91768. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91768
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91769. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91769
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-7赤6（260）.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91770. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91770
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91771. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, ED, 100K., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91771
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

(備考)失敗.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91772. Cu-0.3Ge, T62, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/21.

 アイテム
資料番号: L-91772
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)T62. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]1/21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91773. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91773
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋2黒18（80）. 日付元記載「1/20」.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91774. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91774
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91775. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, DF, 100K., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91775
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-4黒12（300）.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91776. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, BF, 100K., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91776
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91777. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, ED., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91777
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91778. Cu-0.3Ni, T42, LASREF, 3, 100K., [1994年]1/20.

 アイテム
資料番号: L-91778
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T42. (照射条件)LASREF. (照射量)3. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]1/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91780. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100., [1994年]1/22.

 アイテム
資料番号: L-91780
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100.

(備考)日付元記載「1/22」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1994年]1/22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91781. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100., [1994年]1/22.

 アイテム
資料番号: L-91781
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100.

日付: [1994年]1/22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91782. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100., [1994年]1/22.

 アイテム
資料番号: L-91782
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100.

日付: [1994年]1/22.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91783. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91783
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Area 1　調整. 日付元記載「1/23」. 実験者元記載「三間」.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91784. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, BF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91784
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Area 1　調整.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91785. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91785
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　Area　2　場所違う.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91786. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, BF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91786
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　Area　2　場所違う.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91787. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91787
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　Area　2’　場所違う.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91788. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV, DF, 50K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91788
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　Area　2’　場所違う.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91789. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　100sec, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91789
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　100sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　Area 3.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91790. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　100sec, BF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91790
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　100sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　Area 3.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91791. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　100sec, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91791
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　100sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　Area 3.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91792. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　10sec, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91792
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　Area 4.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91793. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　10sec, BF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91793
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　10sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　Area 4.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91794. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　10sec, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91794
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　Area 4.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91795. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　10sec, DF, 50K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91795
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　10sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　Area 4.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91796. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　300sec, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91796
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　Area 5.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91797. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　300sec, BF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91797
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　300sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　Area 5.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91798. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　30sec, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91798
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α　-15.5赤14（140）area　3.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91799. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　30sec, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91799
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91800. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　30sec, BF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91800
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　30sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91801. Ag, Cu ion照射, RT, 150keV　30sec, DF, 100K., [1994年]1/23.

 アイテム
資料番号: L-91801
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射温度)RT. (照射量)150keV　30sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　-23.5赤14（260）.

日付: [1994年]1/23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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