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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91953. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-91953
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　area　B　　expose　5.6sec.

日付: [1994年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91954. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年]1/28.

 アイテム
資料番号: L-91954
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　area　B　　expose　4sec.

日付: [1994年]1/28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91955. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 50K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91955
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　area　A　annealing　10min　at　800K(9.22mV). 実験者元記載「三間」.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91956. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 50K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91956
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　area　A.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91957. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91957
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　area　B.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91958. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91958
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　area　B　　exposure　5.6sec.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91959. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91959
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　area　B　　exposure　4sec.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91960. Ag, Cu ion照射, 150keV, ED., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91960
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　area　B.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91961. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91961
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　area　C.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91962. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 50K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91962
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　area　A　annealing　10min　at　850K(10.2mV).

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91963. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 50K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91963
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α area　A.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91964. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91964
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α area　B.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91965. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91965
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α area　A　exposure　4.0sec.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91966. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91966
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α area　A　exposure　4.0sec.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91967. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 50K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91967
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α area　A.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91968. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91968
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)area　C.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91969. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91969
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)area　C.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91970. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91970
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)area　B　ビーム広げる.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91971. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91971
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)area　B　ビーム少ししぼる.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91972. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 50K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91972
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)area A.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91973. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 50K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91973
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β area A.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91974. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 50K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91974
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β area A.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91975. Ag, Cu ion照射, 150keV, BF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91975
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β area B.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91976. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91976
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β area B.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91977. Ag, Cu ion照射, 150keV, DF, 100K., [1994年1月28日.]

 アイテム
資料番号: L-91977
範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)Cu ion照射. (照射量)150keV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)area B　ビーム少し広げて.

日付: [1994年1月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91978. Ni-2Si, BF, 20K., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91978
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)hot　①. 日付元記載「2/1」. 実験者元記載「河内」.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91979. Ni-2Si, BF, 20K., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91979
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)②　-4.5黒2.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91980. Ni-2Si, ED., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91980
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91981. Ni-2Si, BF, 20K., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91981
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)Grain　B　③.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91982. Ni-2Si., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91982
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)④.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91983. Ni-2Si, ED., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91983
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　(0　0）.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91984. Ni-2Si., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91984
範囲と内容

(試料)Ni-2Si.

(備考)⑤　grain　A＋B.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91985. Ni-2Si, ED., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91985
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91986. Ni-2Si, ED., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91986
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91987. Ni-2Si., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91987
範囲と内容

(試料)Ni-2Si.

(備考)area　C　両grain.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91988. Ni-2Si, BF, 20K., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91988
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)　⑥　1.7赤10　D.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91989. Ni-2Si, BF, 10K., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91989
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91990. Ni-2Si, BF, 20K., [1994年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-91990
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)⑦　(-1、赤7）D.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91991. Ni-2Si, ED., [1994年]2/1.

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資料番号: L-91991
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（0　0）.

日付: [1994年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91992. Ni-2Si, BF, 20K., [1994年2月1日.]

 アイテム
資料番号: L-91992
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)⑧　area　E　(-15黒7）.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91993. Ni-2Si, BF, 20K., [1994年2月1日.]

 アイテム
資料番号: L-91993
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)⑨　area　F　(-15黒5）.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91994. Ni-2Si, ED., [1994年2月1日.]

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資料番号: L-91994
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)失敗.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91995. Ni-2Si, BF, 20K., [1994年2月1日.]

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資料番号: L-91995
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)⑩　area　EF　（-15黒6）.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91996. Ni-2Si, DF, 20K., [1994年2月1日.]

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資料番号: L-91996
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)area　G　(-6赤14）.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91997. Ni-2Si, ED., [1994年2月1日.]

 アイテム
資料番号: L-91997
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)E.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91998. Ni-2Si, ED., [1994年2月1日.]

 アイテム
資料番号: L-91998
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)F.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-91999. Ni-2Si, ED., [1994年2月1日.]

 アイテム
資料番号: L-91999
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)G.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92000. Ni-2Si., [1994年2月1日.]

 アイテム
資料番号: L-92000
範囲と内容

(試料)Ni-2Si.

(備考)X.

日付: [1994年2月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92002. Ni-2Si, BF, 10K., [1994年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-92002
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)　(-9赤12（40））. 日付元記載「2/2」. 実験者元記載「こーち」.

日付: [1994年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92003. Ni-2Si, BF, 10K., [1994年]2/2.

 アイテム
資料番号: L-92003
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)　(-9赤12（40））.

日付: [1994年]2/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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