電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92209. JPCAM, M01, irr., DF, 150K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92209

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M01. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92210. JPCAM, M01, irr., BF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92210

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M01. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92211. JPCAM, M01, irr., ED., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92211

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M01. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92212. JPCAM, M02, irr., BF, 20K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92212

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　-9赤6-12（90）.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92213. JPCAM, M02, irr., BF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92213

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92214. JPCAM, M02, irr., DF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92214

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92215. JPCAM, M02, irr., DF, 150K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92215

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92216. JPCAM, M02, irr., BF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92216

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　-13赤0-6（200）.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92217. JPCAM, M02, irr., DF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92217

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92218. JPCAM, M02, irr., DF, 150K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92218

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92219. JPCAM, M02, irr., DF, 150K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92219

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)β.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92220. JPCAM, M02, irr., ED., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92220

範囲と内容

(試料)JPCAM. (試料番号)M02. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92221. Ag, LASREF, 7, DF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92221

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α　-10黒12（160）. 日付元記載「2/17」.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92222. Ag, LASREF, 7, DF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92222

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92223. Ag, LASREF, 7, BF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92223

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92224. Ag, LASREF, 7, DF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92224

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β　-15黒6（300）.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92225. Ag, LASREF, 7, BF, 100K., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92225

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92226. Ag, LASREF, 7, ED., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92226

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92227. Ag, LASREF, 7, DF., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92227

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92228. Au, LASREF, 7, DF., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92228

範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)α　-7赤6（40）.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-92229. Au, LASREF, 7, BF., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-92229

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93341. Au, LASREF, 7, DF., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-93341

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)α　-22黒0（0）.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93342. Au, LASREF, 7, BF., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-93342

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)α.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93343. Au, LASREF, 7, DF., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-93343

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)β　-26赤6（300）.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93344. Au, LASREF, 7, BF., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-93344

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)β.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93345. Au, LASREF, 7, ED., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-93345

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93346. Au, LASREF, 7, BF., [1994年]2/17.

アイテム

資料番号: L-93346

範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)LASREF. (照射量)7. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/17.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93348. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93348

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位多し　dotなし. 日付元記載「2/18」. 実験者元記載「井関」.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93349. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93349

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93350. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93350

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93351. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93351

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93352. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93352

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93353. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93353

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ビーム当たっていない？.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93354. Ni, He ion照射500keV, 50μA., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93354

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)dot多し?　コンタミ.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93355. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93355

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93356. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93356

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多し.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93357. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93357

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93358. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93358

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93359. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93359

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93360. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 50K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93360

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93361. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93361

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ゴミ多し.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93362. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93362

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93363. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93363

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93364. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93364

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93365. Ni, He ion照射500keV, 50μA, ED., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93365

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)100.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93366. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93366

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93367. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93367

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93368. Ni, He ion照射500keV, 50μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93368

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93369. Ni, He ion照射500keV, 50μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93369

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93370. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93370

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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