電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93371. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93371

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93372. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93372

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93373. Ni, He ion照射500keV, 20μA, DF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93373

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別の場所.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93374. Ni, He ion照射500keV, 20μA, BF, 100K., [1994年]2/18.

アイテム

資料番号: L-93374

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)20μA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)別の場所.

日付: [1994年]2/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93375. Ni, He ion照射500keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93375

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射500keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚さ. 日付元記載「2/19」. 実験者元記載「Iseki」.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93376. Ni, He ion照射501keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93376

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射501keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93377. Ni, He ion照射502keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93377

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射502keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93378. Ni, He ion照射503keV, 50nA, BF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93378

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射503keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)二本はすし.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93379. Ni, He ion照射504keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93379

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射504keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93380. Ni, He ion照射505keV, 50nA, DF, 100K., [1994年]2/19.

アイテム

資料番号: L-93380

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He ion照射505keV. (照射量)50nA. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)欠陥ではない？.

日付: [1994年]2/19.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93381. JPCAM, irr., DF, 20K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93381

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　-2.5　0. 日付元記載「2/21」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93382. JPCAM, irr., DF, 100K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93382

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93383. JPCAM, irr., DF, 100K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93383

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93384. JPCAM, irr., DF, 150K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93384

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93385. JPCAM, irr., ED., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93385

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93386. JPCAM, irr., BF, 100K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93386

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　　-1　黒160.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93387. JPCAM, irr., DF, 100K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93387

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93388. JPCAM, irr., DF, 150K., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93388

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93389. JPCAM, irr., ED., [1994年]2/22.

アイテム

資料番号: L-93389

範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)irr. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]2/22.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93391. Ag, LAMPF, DF, 100K., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93391

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)Area　A　α　＋.15赤5（180）. 日付元記載「1994. 3. 5.」. 実験者元記載「Kiritani, w. Kizuka & Yamagishi」.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93392. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93392

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93393. Ag, LAMPF, ED., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93393

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93394. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93394

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93395. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93395

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93396. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93396

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)area　B　α.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93397. Ag, LAMPF, ED., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93397

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93398. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93398

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93399. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93399

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)A β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93400. Ag, LAMPF, ED., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93400

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93401. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93401

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)B β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93402. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93402

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93403. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93403

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93404. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93404

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93405. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93405

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B β.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93406. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93406

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

(備考)A γ　-7.5　赤17（100）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93407. Ag, LAMPF, ED., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93407

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考) γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93408. Ag, LAMPF, DF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93408

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93409. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93409

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93410. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93410

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93411. Ag, LAMPF, BF., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93411

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)A γ.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93412. Ag, LAMPF, BF, 100K., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93412

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の視野（山岸）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93413. Ag, LAMPF, DF, 20K., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93413

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)別の視野（山岸）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93414. Ag, LAMPF, ED., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93414

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)別の視野（山岸）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93415. Ag, LAMPF, DF, 100K., 1994. 3. 5.

アイテム

資料番号: L-93415

範囲と内容

(試料)Ag. (照射条件)LAMPF. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別の視野（山岸）.

日付: 1994. 3. 5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93417. Ni-0.05Cu, JMTR, 400℃., 1994. 3. 14, 3/14.

アイテム

資料番号: L-93417

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃.

(備考)日付元記載「1994. 3. 14.」, 「3/14」. 実験者元記載「河内」.

日付: 1994. 3. 14, 3/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93418. Ni-0.05Cu, JMTR, 400℃, BF　, 20K., 1994. 3. 14, 3/14.

アイテム

資料番号: L-93418

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF　. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)S＞＞0.

(備考)（黒0、＋11）.

日付: 1994. 3. 14, 3/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93419. Ni-0.05Cu, JMTR, 400℃, BF　, 10K., 1994. 3. 14, 3/14.

アイテム

資料番号: L-93419

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF　. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)S＞＞0.

(備考)（黒0、＋11）.

日付: 1994. 3. 14, 3/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93420. Ni-0.05Cu, JMTR, 400℃, 20K., 1994. 3. 14, 3/14.

アイテム

資料番号: L-93420

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)20K.

(備考)（黒0、＋11）赤0、＋17）.

日付: 1994. 3. 14, 3/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93421. Ni-0.05Cu, JMTR, 400℃, 10K., 1994. 3. 14, 3/14.

アイテム

資料番号: L-93421

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)10K.

日付: 1994. 3. 14, 3/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93422. Ni-0.05Cu, JMTR, 400℃, ED., 1994. 3. 14, 3/14.

アイテム

資料番号: L-93422

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: 1994. 3. 14, 3/14.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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