電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93473. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93473

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)S.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93474. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93474

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)T.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93475. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93475

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)U.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93476. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93476

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)V.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93477. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93477

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)Z.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93478. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93478

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)Y.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93479. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93479

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)X.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93480. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93480

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)W.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93481. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93481

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)F.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93482. Ni-0.05Cu, JMTR, 300℃, 100K., [1994年3月17日.]

アイテム

資料番号: L-93482

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Cu. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)H.

日付: [1994年3月17日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93484. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93484

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)D＝5.0x1015ion/cm2　α　0赤18（220）. 日付元記載「3/18」.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93485. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93485

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93486. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93486

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93487. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93487

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93488. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93488

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93489. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93489

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　＋6赤12（200）.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93490. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93490

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93491. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93491

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93492. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93492

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)β.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93493. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93493

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)β.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93494. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93494

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93495. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93495

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　他のgrain　-3赤0（250）失敗. 実験者元記載「（荒河）」.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93496. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93496

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93497. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93497

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93498. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93498

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93499. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93499

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α　-3.5赤0（250）.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93500. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93500

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　-3赤12（100）.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93501. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93501

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93502. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93502

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93503. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93503

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93504. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93504

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93505. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93505

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93506. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93506

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93507. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93507

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93508. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93508

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　＋8赤12（180）.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93509. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93509

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93510. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93510

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)β.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93511. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 100K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93511

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)β.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93512. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93512

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93513. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93513

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)boundary.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93514. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年]3/18.

アイテム

資料番号: L-93514

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)boundary.

日付: [1994年]3/18.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93515. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93515

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)別のgrain　α　＋12赤14（100）①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93516. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93516

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　②.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93517. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93517

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　③.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93518. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93518

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93519. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93519

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　②.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93520. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93520

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　③.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93521. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93521

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α　①.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93522. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93522

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α　②.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93523. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

アイテム

資料番号: L-93523

範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α　③.

日付: [1994年3月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

もっと詳しく '電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series'

追加の絞り込み:

38364 コレクションおよび/またはレコード表示: