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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

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件名：ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93524. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93524
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　③.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93525. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93525
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93526. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93526
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　①.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93527. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93527
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　②.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93528. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93528
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　③.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93529. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93529
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　①.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93530. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93530
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　②.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93531. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93531
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)β　③.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93532. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93532
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)β　①.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93533. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93533
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)別の場所(歪）.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93534. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93534
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　7赤8（160）　①.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93535. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93535
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　①同じ場所.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93536. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93536
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　バウウダリ.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93537. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93537
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　①.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93538. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93538
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)α　バウンダリ.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93539. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93539
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93540. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93540
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　バウンダリ.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93541. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93541
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93542. Cu, Ne ion照射233MeV, BF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93542
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.5.

(備考)α　①.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93543. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93543
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　-1赤6（340）.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93544. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93544
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93545. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93545
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　ビーム広げえ.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93546. Cu, Ne ion照射233MeV, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93546
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　絞り入れ直し.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93547. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93547
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93548. Cu, Ne ion照射233MeV, ED., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93548
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93549. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93549
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　-6青4（100）.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93550. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93550
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93551. Cu, Ne ion照射233MeV, DF., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93551
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93552. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93552
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β　-6青4（100）青4（100）.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93553. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93553
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)β.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93554. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93554
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)α　-1赤6（340）赤6（20９.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93555. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93555
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.6.

(備考)α.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93556. Cu, Ne ion照射233MeV, DF., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93556
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93557. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93557
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93558. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93558
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2～2.5.

(備考)別グレイン.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93559. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93559
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2～2.5.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93560. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93560
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93561. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

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資料番号: L-93561
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93562. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 50K., [1994年3月18日.]

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資料番号: L-93562
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93563. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

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資料番号: L-93563
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93564. Cu, Ne ion照射233MeV, DF, 100K., [1994年3月18日.]

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資料番号: L-93564
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93565. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

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資料番号: L-93565
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93566. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93566
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93567. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

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資料番号: L-93567
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93568. Cu, Ne ion照射233MeV, 100K., [1994年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-93568
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Ne ion照射233MeV. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1994年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93570. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, DF, 100K., [1994年]3/19.

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資料番号: L-93570
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)日付元記載「3/19」. 実験者元記載「飯吉」.

日付: [1994年]3/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93571. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, DF, 100K., [1994年]3/19.

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資料番号: L-93571
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1994年]3/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93572. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, DF, 100K., [1994年]3/19.

 アイテム
資料番号: L-93572
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　＋14黒3（280）.

日付: [1994年]3/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93573. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, DF, 100K., [1994年]3/19.

 アイテム
資料番号: L-93573
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1994年]3/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-93574. Au, Cu ion照射90keV, 300sec, ED., [1994年]3/19.

 アイテム
資料番号: L-93574
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)Cu ion照射90keV. (照射量)300sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1994年]3/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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