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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Lシリーズ L series

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

38364 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94690. JPCAM, e-照射, DF, 100K., [1994年]6/8.

 アイテム
資料番号: L-94690
範囲と内容

(試料)JPCAM. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>0.

(備考)β -9赤(16-24、300).

日付: [1994年]6/8.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94694. Ni-2Sn, A5., 1994 6/8.

 アイテム
資料番号: L-94694
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A5.

(備考)X=20°40’ Y=黒12°100’. 日付元記載「1994 6/8」. 実験者元記載「甲田 石政」.

日付: 1994 6/8.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94737. V, e-照射, ED., [1994年]6/12.

 アイテム
資料番号: L-94737
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)(t~200℃). 日付元記載「6/12」. 実験者元記載「井関」.

日付: [1994年]6/12.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-94738. V, e-照射, BF, 30K., [1994年]6/12.

 アイテム
資料番号: L-94738
範囲と内容

(試料)V. (照射条件)e-照射. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)RTダミー.

日付: [1994年]6/12.